| Вес | 0,329 кг |
|---|---|
| ISBN | |
| Автор | |
| Год выпуска | 2009 |
| Издательство | |
| Переплет | мягкий переплет |
| Количество страниц | 232 |
| Размер | 155х230 |
| язык | |
| Цвет | |
| Предзаказ (дни) | 4 |
| Рекомендуемый возраст | |
| Жанр книги | |
| Бумага | офсетная |
LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий. Второе издание
Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома. Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista. Лабораторный практикум создан коллективом преподавателей кафедры информационных систем Московского государственного института радиотехники, электроники и автоматики – МИРЭА на основе опыта преподавания дисциплин, связанных с изучением измерений, и практики применения LabVIEW программного обеспечения в учебном процессе.
14,61 €
В наличии, отгрузка через 4 дней















